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治具/ICT测试治具/测试治具/ICT治具
上下针板结构：测试点可双面选点，方便电路板布线设计。
凸形孔制程，提高探针准确度。
使用可调试培林座，容易保养。
随治具附赠Test-Link软体,可缩短PCB维修工时
针板FTP材质，不易变形，长久使用不影响探针准确度。
可安装HP Test Jet 或 Teradyne FramScan+功能之感应板放大器。
适用于单双面有测试点的待测板，如：Notebook,及零件高度较低之待测板。
采用铝框Kit,优点:(optional)
a) 可回收，符合ISO14000环保要求。
b) 具有防静电功能。
c) 美观，耐用。品质佳